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關(guān)鍵詞搜索： PM2.5標(biāo)準(zhǔn)品，SRM1648a城市顆粒物，05/112低分子量肝素，細(xì)菌內(nèi)毒素USP標(biāo)準(zhǔn)品

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技術(shù)文章

2025
08-13

SRM 2034 氧化鈥溶液波長標(biāo)準(zhǔn)(240 nm至650 nm)
SRM 2034氧化鈥溶液波長標(biāo)準(zhǔn)(標(biāo)準(zhǔn)品)是一種經(jīng)過認(rèn)證的轉(zhuǎn)移標(biāo)準(zhǔn)，用于驗(yàn)證和校準(zhǔn)標(biāo)稱光譜帶寬不超過 3 nm 的紫外和可見吸收分光光度計(jì)的波長范圍。...
2025
08-13

SRM 2036 近紅外波長/波數(shù)反射標(biāo)準(zhǔn)品使用
SRM 2036 近紅外波長波數(shù)反射（標(biāo)準(zhǔn)品）是一種經(jīng)過認(rèn)證的傳輸標(biāo)準(zhǔn)，旨在驗(yàn)證和校準(zhǔn)在漫反射模式下運(yùn)行的波長 (λ) 和波數(shù) (ν) 尺度近紅外 (NIR) 光譜儀。...
2025
08-13

SRM 2093 低能量Charpy V-缺口樣本(自驗(yàn)證，8毫米射手)
SRM 2093 低能量Charpy V-缺口樣本(自驗(yàn)證，8毫米射手)旨在根據(jù)當(dāng)前的 ASTM 標(biāo)準(zhǔn) E23 [1] 和當(dāng)前的 ISO 標(biāo)準(zhǔn) 148-2 [2] 驗(yàn)證配備 8 毫米撞針的夏比機(jī)器。...
2025
08-13

SRM 2097 高能Charpy V-缺口標(biāo)本標(biāo)準(zhǔn)品使用
SRM 2097 高能Charpy V-缺口標(biāo)本標(biāo)準(zhǔn)品旨在根據(jù)當(dāng)前的 ASTM 標(biāo)準(zhǔn) E23 [1] 和當(dāng)前的 ISO 標(biāo)準(zhǔn) 148-2 [2] 驗(yàn)證配備 8 毫米撞針的夏比機(jī)器。...
2025
08-13

SRM 2098 超高能量Charpy V-缺口樣本(NIST-驗(yàn)證，8毫米射手)
SRM 2098 超高能夏比 V 型缺口試樣（標(biāo)準(zhǔn)品）旨在根據(jù)當(dāng)前 ASTM 標(biāo)準(zhǔn) E23 [1] 和當(dāng)前 ISO 標(biāo)準(zhǔn) 148-2 [2] 驗(yàn)證配備 8 mm 撞針的夏比機(jī)器。...
2025
08-13

SRM 2100a 陶瓷斷裂韌性標(biāo)準(zhǔn)品使用
SRM 2100a 陶瓷斷裂韌性(標(biāo)準(zhǔn)品)旨在驗(yàn)證斷裂韌性測試程序。...
2025
08-13

SRM 2100b 陶瓷斷裂韌性標(biāo)準(zhǔn)品使用
SRM 2100b 陶瓷斷裂韌性標(biāo)準(zhǔn)品旨在驗(yàn)證斷裂韌性測試程序。...
2025
08-13

SRM 2112 動態(tài)沖擊力驗(yàn)證樣本(自驗(yàn)證，8毫米前鋒；24 kN標(biāo)稱)
SRM 2112 動態(tài)沖擊力驗(yàn)證樣本(標(biāo)準(zhǔn)品)提供的認(rèn)證值主要用于驗(yàn)證使用配備有儀表的 8 毫米撞針的夏比機(jī)器動態(tài)測量的最大力，符合當(dāng)前 ASTM 標(biāo)準(zhǔn) E2298 [1] 或當(dāng)前的 ISO 標(biāo)準(zhǔn) 14556 [2]。...
2025
08-13

SRM 2113 動態(tài)沖擊力驗(yàn)證樣本(自驗(yàn)證，8毫米前鋒；33 kN標(biāo)稱)標(biāo)準(zhǔn)品
SRM 2113 動態(tài)沖擊力驗(yàn)證樣本(標(biāo)準(zhǔn)品)提供的認(rèn)證值主要用于驗(yàn)證使用配備有儀表的 8 毫米撞針的夏比機(jī)器動態(tài)測量的最大力，符合當(dāng)前 ASTM 標(biāo)準(zhǔn) E2298 [1] 或當(dāng)前的 ISO 標(biāo)準(zhǔn) 14556 [2]。...
2025
08-13

SRM 2133 Si深度剖面中的磷種植標(biāo)準(zhǔn)品使用
SRM 2133 Si深度剖面中磷種植標(biāo)準(zhǔn)品旨在用于通過二次離子質(zhì)譜 (SIMS) 分析技術(shù)校準(zhǔn)對硅基質(zhì)中微量和痕量磷的二次離子響應(yīng)。...
2025
08-13

SRM 2134 硅深度剖面標(biāo)準(zhǔn)中的砷植入標(biāo)準(zhǔn)品使用
SRM 2134 硅深度剖面標(biāo)準(zhǔn)中的砷植入標(biāo)準(zhǔn)品旨在用于通過二次離子質(zhì)譜 (SIMS) 分析技術(shù)校準(zhǔn)對硅基質(zhì)中微量和痕量砷的二次離子響應(yīng)。...
2025
08-12

SRM 2135c Ni/Cr薄膜深度剖面標(biāo)準(zhǔn)品使用
SRM 2135c Ni/Cr薄膜深度剖面(標(biāo)準(zhǔn)品)主要用于校準(zhǔn)表面分析中的濺射深度標(biāo)度和腐蝕速率。...

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